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FT61E135−Tab
8−bit CPU (EEPROM)
37 条 RISC 指令: 2T or 4T
16 MHz / 2T (VDD ≥ 2.5)
多达 20 个引脚
Memory
PROGRAM: 3k x 14 bit (读/写保护)
DATA: 128 x 8 bit (读保护)
RAM: 256 x 8 bit
8 层硬件堆栈
用户密匙:Hex 加密/代码执行
工作条件 (5V, 25°C)
VDD (VPOR ≤ 1.9V) VPOR − 5.5 V
(通过 POR 自动调整,0°C 以上 ≤1.7V)
工作温度等级 −
40 −
+
85 °C
低 Standby 0.2 μA
WDT 1.5 μA
正常模式 (16 MHz) 190 μA/mips
低功耗模式 (32 kHz) 9 μA
高可靠性
10 万次擦写次数 (typical)
> 20 年 / 85°C 存储 (typical)
ESD > 8 kV, > 5.5 kV
ADC (12−bit)
12−bit 精度 (≤ 2 MHz ADC 时钟)
8 + 1 通道
VADC−REF
内部: 0.5, 2.0, 3.0, VDD
外部: +, − 可选
自动阈值比较和中断
PWM (Total 4)
支持在 SLEEP 下运行
共 4 个通道 (相同周期) :
独立:占空比,极性
1 个通道 (多达 6 个 I/O):
互补输出+死区
自动故障刹车 (I/O, LVD, ADC)
XOR, XNOR * 2 功能
单脉冲模式;蜂鸣器模式
Timers
WDT (16−bit): 7−bit 后分频
Timer0 (8−bit): 8−bit 预分频
Timer1 (12−bit)
Timer2 (16−bit): 4−bit 预分频和后分频
支持在 SLEEP 下运行
LIRC, 1 or 2x {指令时钟, HIRC, 晶振},
2x EC
I/O PORTS (多达 18 个 I/O)
上拉/下拉电阻
开漏
8 个 I/O 源电流: 3, 6 or 18mA (5V, 25°C)
8 个 I/O 漏电流: 35 or 53 mA (5V, 25°C)
8 个 I/O: 中断/唤醒
电源管理
SLEEP
LVR: 2.0, 2.2, 2.5, 2.8, 3.1, 3.6, 4.1 (V)
LVD: 1.2, 1.8, 2, 2.4, 2.7, 3, 3.3, 3.6, 4 (V)
(LVD 可用作极性可选的单输入比较器功能)
系统时钟 (SysClk)
HIRC 高速内部振荡器
16MHz <±1.5% typical (2.5−5.5V, 25°C)
可微调
1, 2, 4, 8, 16, 32, 64 分频
LIRC 低功耗低速内部振荡器
32 kHz 或 256 kHz
EC 外部时钟 (I/O 输入)
LP / XT 晶振输入
双速时钟启动 (HIRC 或 LIRC)
故障保护时钟监控
其他特性 (欢迎垂询)
ADC 较小分辨率为 0.12mV,精度为 0.24mV,
适用于电流检测
13.56 MHz 载波
用于锂电池的电压监控
½ VDD LCD 偏置
集成开发环境 (IDE)
片上调试 (OCD),ISP
3 个硬件断点
软复位,暂停,单步,运行等
封装
SOP8 DFN8 MSOP10 SOP14
SOP16 SOP20 TSSOP20 DIP20
QFN20
Fremont Micro Devices FT61E13x
Rev1.01 - 2 - 2022-09-21
产品信息和选型表
型号 I/O 数 封装
FT61E131-Hab 8 DFN8
FT61E131B−ab 6 SOP8
FT61E13F−ab 8 MSOP10
FT61E132A−ab 12 SOP14
FT61E133A−ab
14 SOP16
FT61E133B−ab
FT61E135−ab
18
SOP20
FT61E135−Tab TSSOP20
FT61E135−Dab DIP20
FT61E135−Nab QFN2